Aquilos 2+ 

• Dual beam FIB-REM (Fokussierter Ionenstrahl Rasterelektronenmikroskop)

• Ausgestattet mit Kryostage und Fluoreszenzmikroskop

• Präparation dünner (Kryo-)Lamellen aus dicken Proben

• 3D-Rekonstruktion dicker Proben (Slice and View)

Aquilos 2+ am SoN
© Alexander Neuhaus