Um zu verstehen, wie die elektronischen oder magnetischen Eigenschaften eines Materials mit der atomaren Struktur zusammenhängen, nutzen Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler die Rastertunnelmikroskopie. In der Regel sind sie damit auf die Untersuchung der obersten Atomlage eines Festkörpers beschränkt. Prof. Dr. Anika Schlenhoff und Postdoktorand Dr. Maciej Bazarnik vom Physikalischen Institut der Universität Münster ist es nun jedoch erstmals gelungen, mit einem veränderten Messverfahren strukturelle und magnetische Eigenschaften abzubilden, die unter der Oberfläche liegen. Das Team untersuchte eine ultra-dünne Schicht aus einem magnetischen Material (Eisen) unter einer zweidimensionalen Graphen-Schicht.