
apl. Prof. Dr. Hartmut Bracht
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Scanning Spreading Resistance Untersuchungen an Siliziumkarbid
Selbstdiffusion in amorphem Germanium
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Elektronmikroskopische Untersuchungen von amorphen Halbleiterstrukturen
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Time of flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) Messungen an atomic layer deposited (ALD)-Schichtsystemen