Untersuchung dünner Schichten

Die Eigenschaften dünner Schichten, d. h. oberflächennaher Gebiete von Festkörpern, dünnen Filmen, Interfacestrukturen zwischen Film und Substrat sowie Schichtsystemen wurden mit Röntgendiffraktometrie (XRD), Röntgenreflektometrie (XRR), Positronenvernichtungsspektrometrie (PAS), Giant-Magnetwiderstandsmessungen (GMR) und Rasterkraftmikroskopie (SFM) untersucht. Schwerpunkte waren Messungen an metallischen Mehrschichtsystemen mit Nanostrukturen, an UHMW-Polyethylen und andere. Die Messungen hatten zum Ziel, von metallischen Nanostrukturen genaue Kenntnisse über die Zusammenhänge zwischen Präparationsbedingungen und der Morphologie zu erhalten. Die oberflächennahen Zonen von UHMW-Polyethylen sind ausschlaggebend für die tribometrischen Eigenschaften von Hüftpfannen, die aus diesem Material hergestellt werden. Die Messungen an Knochenmineral sollten Aufschluss geben, inwieweit Metallionen aus implantierten Metallen die kristallinen Strukturen bei der

Drittmittelgeber:

Bundesminister für Bildung, Forschung und Technologie, Programm Wissenschaftlich- technische Zusammenarbeit mit Polen und der Ukraine, Projekte POL-233-96, POL-025-98 und UKR-007-98

Beteiligte Wissenschaftler:

B.Sulkio-Cleff (Leiter), Dipl.-Phys. O. Bölling, Dipl.-Phys. C. Moseke, Techniker H. Baumeister, Dr. Z. Stachura, Dr. M. Marszalek, Dr. J. Dryzek, Dr. J. Prokop, Dipl.-Phy. J. Jaworski, Dipl.-Phys. A. Michalik

Veröffentlichungen:

Lekka, M., J. Lekki, M. Marszalek, Z. Stachura, B. Sulkio-Cleff: Local Adhesive Surface Properties Studied by Force Microscopy

Schulte, R., B. Sulkio-Cleff, A. Pawelec, J. Otfinowski, B. Franczuk, M. Lekka, J. Lekki, Z. Stachura: UHMWPE Wear by Tribological Load, Engineering of Biomaterials 7-8 (1999) 16

Filies, O., O. Bölling, K. Grewer, J. Lekki, M. Lekka, Z. Stachura, B. Sulkio-Cleff: Surface Roughness of Thin Layers - A Comparison of XRD and SFM Measurements Appl. Surface Science 141 (1999) 357

Lekka, M., J. Lekki, M. Marszalek, P. Golonka, Z. Stachura, B. Sulkio-Cleff, A. Hrynkiewicz: Local Elastic Properties and Adhesion of Organic Surfaces Studied by SFM, Appl. Surface Science 141 (1999) 345

Filies, O., O. Bölling, K. Grewer, J. Lekki, M. Lekka, Z. Stachura, B. Sulkio-Cleff: A Comparison of XRD and SFM Measurements, Proceedings of the International Symposium on Nano-Scale Modification of Surfaces, Krakow, Poland, May 28-30, 1998

Lekka, M., J. Lekki, M. Marszalek, P. Golonka, Z. Stachura, A.Z. Hrynkiewicz, B. Sulkio-Cleff: Local Elastic Properties and Adhesion of Organic Surfaces Studied by SFM, Prodeedings of the Inernational Symposium

Jaworski, J., M. Marszalek, J. Prokop, Z. Stachura, V. Voznyi and B. Sulkio-Cleff: Modular Ultra-High Vacuum Setup for Surface Studies, Proceedings of the Polish Vacuum Society Congress, Krakow, Poland, May 25-30, 1998

Lebed, S., M. Cholewa, Z. Cioch, R. Hajduk, J. Lekki, A. W. Potempa, Z. Stachura, B. Sulkio-Cleff, J. Styczen, S. Lazarski, S. Maranda, C. Sarnecki, Z. Szklarz: First Results Obtained with Cracow Microprobe, Proceedings of XXXIV Zakopane School of Physics, May 1999

Danilchenko, S.N., C. Moseke, V.V. Kshnyakin, S.A. Aksyonov, L.F. Sukhodub, B. Sulkio-Cleff: X-Ray Diffraction Studies of Bone Mineral, Proceedings of the VI Analytical Russian-German-Ukrainan Symposium (ARGUS-99), Odessa (Ukraine), August 30-September2, 1999

Marszalek, M., J. Grebosz, J. Jaworski, Z. Stachura, M. Zieblinski, B. Sulkio-Cleff: Eight Parameter List Mode for Perturbed Angular Gamma-Gamma Correlation Measurements, Proceedings of the XV International Symposium on Nuclear Quadrupol Interactions, Leipzig, Germany, July 25-30, 1999

Marszalek, M., J. Jaworski, J. Prokop, Z. Stachura, V. Voznyi, B. Sulkio-Cleff: The Evaporation System for Thin Film Deposition in Ultrahigh Vacuum, Proceedings of the Vth National Conference of Vacuum Technology, Borki k/Tomaszowa Maz., Poland, June 9-11, 1999

Marszalek, K., B. Sulkio-Cleff, R. Macuda, M. Marszalek: Computer Controlled System for Residual Gas Analysis in Ultrahigh Vacuum, Proceedings of the Vth National Conference of Vacuum Technology, Borki k/Tomaszowa Maz., Poland, June 9-11, 1999