Forschungsbericht 1995-96   
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Geschäftsführender Direktor: Prof. Dr. M. Stockhausen

 
 
 
[Pfeile grün] Forschungsschwerpunkte 1995 - 1996
Fachbereich 17 - Chemie
Institut für Physikalische Chemie
Arbeitsbereich Prof. Dr. H. Züchner


Qualitative und quantitative Analyse von Metallen, Legierungen, Halbleitern und Werkstoffen

In diesem Bereich der Materialforschung werden Metalle, Legierungen und Halbleiter mit Hilfe der modernen oberflächenanalytischen Verfahren (SIMS, SNMS, AES, XPS) und anderer physikalischer Verfahren untersucht und charakterisiert, insbesondere im Hinblick auf ihre Eignung bzw. Anwendung als Spezialwerkstoff. Neu in das Arbeitsprogramm aufgenommen wurde im Berichtszeitraum die Untersuchung und Charakterisierung dünner SiGe- Halbleiterschichten unter besonderer Berücksichtigung des oberflächennahen Bereiches.

Beteiligte Wissenschaftler:

Dipl.-Chem. J. Kintrup, Dipl.-Chem. A. Pyttlik, Dipl.-Chem. L. Opara, Prof. Dr. H. Züchner (Leiter)

Veröffentlichungen:

Kintrup, J., H. Züchner: XPS Investigations on Solid and Vacuum Deposited, Oxidized and Non-oxidized Palladium, Z. Naturforsch., 50 a, 381-387, 1995

 
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Hans-Joachim Peter
EMail: VDV12@uni-muenster.de
Informationskennung: FO17DG03
Datum: 1998-06-16