Forschungsbericht 1995-96
	Institut für Kernphysik Wilhelm-Klemm-Straße 9 Tel. (0251) 83 - 3 49 51 / 3 49 71 FAX: (0251) 83 - 3 49 62 e-mail: @IKP.UNI-MUENSTER.DE Direktoren: Prof. Dres. J. Andrä, R. Santo

Forschungsschwerpunkte 1995 - 1996 Fachbereich 16 - Physik Institut für Kernphysik Arbeitsbereiche Prof. Dr. R. Santo

Untersuchung dünner Schichten

Die Eigenschaften dünner Schichten (oberflächennahe Gebiete von Festkörpern, dünne Filme, Interface-Strukturen zwischen Film und Substrat) wurden mit Tribometrie, Röntgen-Diffraktometrie und -Reflektometrie, RBS-TOF-Spektroskopie, Positronen-Vernichtungsspektroskopie und Raster-Kraftmikroskopie untersucht. Schwerpunkte waren Messungen an technischen Oberflächen, z.B. Weißbleche, deren Textur und Abriebverhalten von Bedeutung sind, sowie an UHMW-Polyethylen, welches in der Hüftprothetik verwendet wird (Hüftpfanne). Neben Art (Größe, Form) der PE-Abriebpartikel, welche in tribometrischer Simulation erzeugt wurden, wurden Rekristallisation des PE gemessen (durch Kalorimetrie), welche u.U. zum Bruch einer Hüftpfanne führen. Im weiteren konzentrierten sich die Arbeiten auf den Aufbau einer Ultrahochvakuum-Anlage im Institut für Kernphysik in Krakau. Ziel ist es, in dieser Anlage Mehrfach-Schichtsysteme herzustellen, das Wachstum der Schichten topographisch mit einem Kraftmikroskop zu verfolgen sowie Defekte mit der Spektroskopie gestörter gg-Winkel-Korrelationen nachzuweisen. Hierzu ist die Anlage mit drei, durch Schieber getrennten, separaten Kammern ausgerüstet. Transportsysteme erlauben es, die Proben an die jeweiligen Meßplätze zu bringen. Erste Untersuchungen an magnetischen Schichten sind in Vorbereitung.

Drittmittelgeber:

Bundesministerium für Bildung und Forschung, Programm "Wissenschaftlich-technische Zusammenarbeit mit Polen, Projekte X082.2, N-91-94)

Beteiligte Wissenschaftler:

O. Bölling, B. Beckfeld, Dr. B. Cleff (Leiter), Dr. J. Dryzek (Inst. f. Kernphysik, Krakau), Dr. E. Dryzek (Inst. f. Kernphysik, Krakau), Dipl.-Phys. O. Filies, S. Kuczkowiak, Dipl.-Phys. M. Lekka (Inst. f. Kernphysik, Krakau), Dr. J. Lekki (Inst. f. Kernphysik, Krakau), Dipl.-Phys. R. Schulte, Dr. Z. Stachura (Inst. f. Kernphysik, Krakau), Dipl.-Phys. S. Wollschläger

Veröffentlichungen:

Dryzek, J., E. Dryzek, B. Cleff: Defect Profile induced by friction and wear processes detected by positron annihilation method. Acta Physica Polonica 88, 129-133 (1995)

Lekki, J., M. Lekka, B. Cleff, Z. Stachura: Scanning force microscopy studies of implanted silicon crystals, II. Int. School and Symposium on Physics in Math. Science, Ja- szowiec Sept. 95, angenommen zur Publikation in Acta Physica Polonica

Lekki, J., U. Voß, M. Sowa, B. Cleff: Construction and first experiments using scanning force microscope. Report No. 1690/AP des Instituts für Kernphysik, Krakau, 1995

Lekka, M., J. Lekki, A.P. Shoulyarenko, B. Cleff, J. Stachura, Z. Stachura: Scanning force microscopy of biological samples. Pol. J. Pathol. 47, 51-55 (1996)

Dryzek, J., T. Stegemann, B. Cleff: Badania warstwy wierzchniej metoda anihilacji pozytonow, Instytut Fizyki Jadrowej, Krakow 1996

Lekki, J., B. Beckfeld, M. Lekka, B. Cleff, Z. Stachura: Quantitativ surface roughness estimation using scanning force microscopy. IV. Seminarium "Powwierzchnia i Struktury Cienkowarstwowe", Kazimierz Dolny, 18.-21. Sept. 1996

Lekka, M., P. Laidler, D. Gil, J. Lekki, B. Cleff, Z. Stachura: Elastic surface properties studied using scanning force microscopy. IV. Seminarium "Powwierzchnia i Struktury Cienkowarstwowe", Kazimierz Dolny, 18.-21. Sept. 1996