Westfälische Wilhelms-Universität
Münster
- Fachbereich Physik -
KOLLOQUIUM ÜBER SPEZIELLE FRAGEN DER PHYSIK
Montag, 27. Januar
2003
Dr. H. Hölscher
Dynamische
Rasterkraftmikroskopie
Die dynamische Rasterkraftmikroskopie ermöglicht neue Einblicke und Erkenntnisse in die Oberflächenphysik. Im neu entwickelten Nicht-Kontakt-Modus kann sie im Vakuum einzelne Atome an Oberflächen anorganischer und organischer Materialien abbilden. Die Stärke atomarer Wechselwirkungen an Oberflächen kann mit der dynamischen Kraftspektroskopie ausgemessen werden. Bei tiefen Temperaturen im Hochvakuum ist dies sogar mit dreidimensionaler Auflösung möglich.
Aufgrund verschiedener experimenteller Probleme sind diese hochauflösenden Messungen aber auf das Vakuum beschränkt. Um hochauflösende dynamische Rasterkraftspektroskopie zukünftig auch an Luft und in Flüssigkeiten zu ermöglichen, wurde ein neuer Ansatz entwickelt, der auf der Q-control Methode basiert.
Links: Abbildung von NiO(001)
mit einer Eisenspitze.
Rechts: Kraft zwischen einer Graphit-Oberfläche und
einer Silizium-Spitze
Ort: Wilhelm-Klemm-Str. 9, Hörsaal 404
Zeit: 17 Uhr c.t.
Einladender: Prof. Dr. H. Fuchs