| Kommentar |
Die Vorlesung behandelt die Grundlagen der Materialanalyse in Metallen, Legierungen und Gläsern basierend auf den Methoden der Raster- sowie Transmissionselektronenmikroskopie (REM/TEM), Röntgendiffraktometrie und Kalorimetrie. Folgende Themen werden ausführlich behandelt: Instrumenteller Aufbau eines Raster-/Transmissionselektronenmikroskops (Elektronenquellen, Linsen, Blenden, Pumpen und Halter), Beugung, Abbildung (Bildentstehung- und Kontrast), Nachweis und Interpretation von Defekten (Punktdefekte, Versetzungen, Stapelfehler, Korngrenzen, Grenzflächen, Ausscheidungen), analytische Transmissionselektronenmikroskopie (Grundlagen u. Anwendung der Röntgen- sowie Elektronen-Energieverlust-Spektroskopie), Röntgendiffraktometrie (Debye-Scherrer-, Laue, Drehkristall-Verfahren), Thermische Analyse (DSC, DTA, Mikro-Kalorimeter).
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| Literatur |
D.B. Williams and C.B. Carter: Transmission Electron Microscopy
B. Fultz and J.M. Howe: Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
M. v. Heimendahl: Einführung in die Elektronenmikroskopie
P. Hirsch, A. Howie, R. Nicholson, W. Pashley, M.J. Whelan: Electron Microscopy of Thin Crystals
L. Reimer: Transmission Electron Microscopy
L. Spieß, R. Schwarzer, H. Behnken, G. Teichert: Moderne Röntgenbeugung
W.F. Hemminger, H.K. Cammenga: Methoden der thermischen Analyse |
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