TOF-SIMS Analysen interplanetarer Staubteilchen

Interplanetare Staubteilchen (IDPs) sind submillimetergroße Fragmente von Asteroiden und Kometen. Beim Eindringen in die Erdatmosphäre werden sie nahezu zersörungsfrei abgebremst und von der NASA in ca. 20 km Höhe mit Silikonöl-beschichteten Plexiglasscheiben gesammelt. IDPs stellen somit die dritte Klasse extraterrestrischen Materials, neben Mondgestein und Meteoriten, dar und bieten zur Zeit die einzige Möglichkeit, kometare Materie im Labor zu untersuchen.

Zur Präparation von IDPs wurde ein neues Verfahren entwickelt: Die Verwendung geätzter Siliziumwafer als Substrat ermöglichte ein fast vollständiges Entfernen der in bisherigen Arbeiten noch störenden Silikonölrückstände. Mit der neuen Technik waren erstmals TOF-SIMS (Sekundärionen-Flugzeitmassenspektrometrie) Messungen der Oberflächenzusammensetzung von IDPs möglich. Die ebenfalls erfolgte ortsaufgelöste Messung der inneren Zusammensetzung ergab weitere Hinweise auf eine allgemeine (Halogen-) Kontamination der IDPs während ihres Aufenthalts in der Stratosphäre, die ältere TOF-SIMS Untersuchungen sowie die Resultate anderer Forscher stützen.

Drittmittelgeber:

Deutsche Forschungsgesellschaft

Beteiligte Wissenschaftler:

Dr. Detlef Rost, Prof. Dr. Elmar K. Jessberger, HDoz. Dr. Thomas Stephan, Dipl.-Phys. Christian Wies

Veröffentlichungen:

Rost D., Stephan T., Wies C., Jessberger E.K.: Analysis of sections and surfaces of interplanetary dust particles. Meteorit. Planet. Sci. 34, A99, 1999.

Rost D., Stephan T. , Jessberger E.K.: Surface analysis of stratospheric dust particles. Meteorit. Planet. Sci. 34, 637-646, 1999.

Rost D.: TOF-SIMS analyses of interplanetary dust particles. Dissertation, Universität Heidelberg, 109 pp, 2000.