| 12.04.2007 |
Ungeahnte TEM-Möglichkeiten mittels Elektronenholographie
Prof. Dr. Michael Lehmann, Institut für Optik und Atomare Physik, Technische Universität Berlin |
Die makroskopischen Eigenschaften eines Festkörpers werden durch seine mikroskopische,
d.h. atomare Struktur bestimmt. Das Werkzeug der Wahl zur atomar aufgelösten Abbildung
ist die hochauflösende Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM), wo durch Korrektur
der sphärischen Aberration (Cs-Korrektur) sich in jüngster Zeit aufregend neue experimentelle
Möglichkeiten eröffnet haben. Dabei ist die Elektronenwelle immer Träger der Objektinformation;
jedoch geht die besonders wichtige Phase der Elektronenwelle bei Aufzeichnung
verloren. Folglich sind die Aufzeichnungs- und Analysemöglichkeiten trotz Cs-
Korrektur stark eingeschränkt. Dieses Phasenverlustproblem löst die Elektronenholographie
im TEM durch Registrierung eines Interferenzmusters, dem sogenannten Elektronenhologramm.
Damit wird nicht nur der Weg zur holographischen Materialanalytik in atomaren
Dimensionen, sondern insbesondere auch zur Bestimmung beispielsweise von elektrischen
Potentialen und magnetischen Domänen auf der Nanometerskala eröffnet.
Einladender: Prof. Dr. H. Kohl
| Ort: |
Wilhelm-Klemm-Str. 10, IG I, HS 2 |
| Zeit: |
donerstags 16 Uhr c.t. |
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Kolloquiums-Kaffee ab 15:45 Uhr vor dem Hörsaal |
Im Auftrag der Hochschullehrer des Fachbereichs Physik
Apl. Prof. Dr. H. Bracht
