Montag, 16. Juli 2001

Polnische Akademie der Wissenschaften, Krakau

Materialien der Elektronik und Elektrotechnik erfordern oftmals eine Charakterisierung der Struktur und chemischen Zusammensetzung mit hoher lateraler Auflösung. Es werden die beiden Möglichkeiten der analytischen Elektronenmikroskopie (AEM) vorgestellt: die energiedispersive Röntgenstrahl-Spektroskopie (EDX) und die Elektronen-Energieverlustspektroskopie. Es wird insbesondere dargestellt, welchen Einfluss bei der EDX-Analyse die Instrumenten- und Materialparameter für eine maximale laterale Auflösung haben. Die untersuchten Beispiele betreffen die Gleichgewichts- und Nichtgleichgewichtssegregation an Korngrenzen sowie diffusionskontrollierte Phasenumwandlungen. Die Möglichkeiten der analytischen Elektronenmikroskopie zur Bestimmung von Korngrenzen- und Volumendiffusionskoeffizienten werden aufgezeigt.

Ort: Wilhelm-Klemm-Str. 10, IG I, HS 2

Zeit: 17 Uhr c.t.

Kolloquiums-Kaffee ab 16.45 Uhr vor dem Hörsaal