Analytische Ausstattung
JEOL 3010 Transmissions-
elektronenmikroskop
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Transmissionselektronenmikroskop Raum: 042 (Institutsgruppe I) Telefon im TEM-Labor: +49 (0)251 83-33508 Ansprechpartner: Christian Vollmer  Technische Details Einsatzbereiche Literatur Links & Downloads |
| Technische Details |
| Transmissionselektronenmikroskop ausgestattet mit einem LaB6-Emitter, einem Gatan post – column Energiefilter (GIF) und einem Oxford link ISIS EDX system. Dieses Mikroskop ermöglicht die Abbildung elektronentransparenter Proben bis zu einer Beschleunigungsspannung von 300 kV, einer Auflösunggrenze von 0.17 nm und einer Energieauflösung von 1-2 eV. |
| Einsatzbereiche |
| Mit dem bloßem Auge können die Millimeter Abstände auf einem gewöhnlichen Lineal noch problemlos aufgelöst d.h. getrennt wahrgenommen werden. Reduziert man jedoch den Strichabstand auf ein Zehntel Millimeter (= 100µm), so ist dies der Grenzwert der noch gerade ohne Hilfsmittel aufgelöst werden kann. Häufig sind kleinere Strukturen von großem Interesse, sie definieren das makroskopische Gesamtverhalten. Die Struktur und chemische Zusammensetzung bestimmt das Erscheinungsbild und die physikalischen Eigenschaften z.B. des Baumaterials der Erde (Gesteine, Minerale,...). Längeneinheiten: 1nm (Nanometer) = 1 tausendstel Mikrometer (µm) = 1 millionstel Millimeter (mm) |
| Das Prinzip der Abbildung in derTransmissionselektronenmikroskopie gleicht dem herkömmlicher Lichtmikroskopie. An Stelle der Lichtquelle zur Beleuchtung wird eine Elektronenquelle verwendet. Diese Elektronen werden zur Abbildung mit magnetischen Linsen gebündelt, wie die Lichtstrahlen mit Glaslinsen in der Lichtmikroskopie. Das stark vergrößerte Bild, bis zur Auflösung einzelner Atomsäulen kann dann mit einer Photoplatte oder einer Kamera aufgenommen werden. Um auch in der Transmissionselektronenmikroskopie Elemente unterscheiden zu können, sortiert man die Elektronen, die die Probe durchquert haben nach Ihrem Energieverlust. Dies geschieht mit Hilfe eines elektronenoptischen Prismas (Energiefilter), analog dem Aufspalten von Licht mit Hilfe eines Glasprismas in seine Spektralfarben. Selektiert man mit Hilfe einer Blende nun die Elektronen mit einem Energieverlust, der dem interessierenden Element entspricht, so erhält man ein Bild, welches die Verteilung dieses Elementes wiederspiegelt. |
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Die obigen Abbildungen zeigen Hematit (Fe2O3) helle und Ilmenit (TiFeO3) dunkle Entmischungslamellen unterschiedlicher Größe. Die Existenz und die Größe von Entmischungen ermöglicht Rückschlüsse auf die Entstehung des Gesteines und die dort vorhandene Peripherie. |
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Höchauflösungsbilder emöglichen die Abbildung atomarer Strukturen. Das Bild zeigt Hochauflösungsbild einer Grenzfläche einer kleinen Entmischungslamelle. Der Aufbau der Grenzfläche und deren Kohärenz ermöglicht Rückschlüsse auf den Entstehungsmechanismus. |
| Literatur |
| Links & Downloads |
| Nutzungsplan TEM JEOL 3010 |
