Analytische Ausstattung

Rasterelektronenmikroskop
JEOL 840


Rasterelektronenmikroskop für die SE-,
BSE- und KL- Bilderfassung sowie der qualitativen Haupt- und Nebenelementanalytik

Raum: 038 (Institutsgebäude I)

Telefon im REM-Labor:
+49 (0)251 83-33483

Ansprechpartner:
 Thorsten Grund (Institut für Planetologie)

 Technische Details
 Einsatzbereiche
 Literatur
 Links & Downloads
Technische Details
Das Rasterelektronenmikroskop verfügt neben den konventionellen SE- und BSE-Detekorsystemen auch über ein Centraurus-BSE/KL-Detektorsystem und ist
mit einem OXFORD INCA EDX- System ausgestattet. Der Bildeinzug erfolgt
über die analySIS-Software.
Einsatzbereiche
Die Untersuchung von Oberflächenstrukturen sowie die ortsaufgelöste qualitative Elementanalyse sind die bevorzugten Einsatzbereiche des Rasterelektronenmikroskops. Mit einer Vergrößerung von bis zu 10nm fungiert das Rasterelektronenmikroskop als Schnittstelle zwischen der Lichtmikroskopie und Transmissionselektronenmikroskopie.
Literatur
  • Goldstein, J.I., Newbury, D.E., Echlin, P., Joy, D.C., Romig, A.D., Lyman, C.E., Fiori, C., and Lifshin, E. 1992. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Plenum, New York.
  • Potts, P.J., Bowles, J.F.W., Reed, S.J.B., Cave, M.R. (Eds.) Microprone Techniques in the Earth Sciences. The Mineralogical Society Series, 6, 1995, Chapmann & Hall.
  • Reed, S.J.B. Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology. Cambridge University Press, 1996, 201pp.
Links & Downloads
Nutzungsplan Rasterelektronenmikroskop (nur Domäne Uni Münster)

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